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专利名称：位姿测量方法专利类型：发明专利
发明人：缪东晶,郑继辉,李建双,赫明钊,李连福,蒋远林,康瑶,
陈杨
申请号：CN201810393454.8申请日：20180427公开号：CN108458710A公开日：20180828
摘要：本申请公开了一种位姿测量方法，通过步骤S10，基于六个目标的位置建立系统坐标系，提供一个被测平面，在所述被测平面设定三个不同的目标点A、B、C，测量所述目标点A、B、C两两之间的测量相对距离参数；S20，基于所述系统坐标系，标定所述目标点A、B、C的系统参数；S30，基于所述测量相对距离参数、所述系统参数，以及所述目标点A、B、C从初始位置移动到测量位置时相对于每个所述目标的距离变化参数，确定所述被测平面在所述测量位置的位姿参数，确定所述被测平面在所述测量位置的位姿参数。通过上述方法可以在大范围空间内实现精密测量。
申请人：中国计量科学研究院
地址：100029 北京市朝阳区北三环东路18号
国籍：CN
代理机构：北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人：哈达
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