TECHNOLOGY AND INFORMATION工业与信息化浅谈电容式电流互感器末屏介损与电容量测量接线方式对结果的影响张纬怡 吴凯 徐艺敏 李星宇国网江苏省电力有限公司镇江供电分公司 江苏 镇江 212000摘 要 测量电容式电流互感器末屏介质损耗因数tanδ与电容量CX时,发现测得的数据随电流互感器一次绕组接线方式的变化而变化。通过等值电路分析可知,当一次绕组短接接地或悬空时,主屏电容(一次绕组对末屏的电容)与杂散电容(一次绕组对周围接地部分的电容)会对试验数据产生影响。在一次绕组短接接屏蔽的接线方式下,测得的结果最为准确。关键词 接线方式;电容式电流互感器;末屏;介损与电容量1 测量CT末屏tanδ和CX的重要性由于端部密封不严而进水受潮,引起互感器内部游离放电加剧,内部沿面放电,是电容式电流互感器绝缘劣化的主要原因之一。进入互感器内的水沉积于电容芯棒底部,芯棒打弯处绝缘受潮严重,是绝缘最薄弱的部位,在工作场强的长期作用下,使一对或几对主电容屏击穿,甚至导致整个电容芯棒的击穿,从而造成爆炸事故[1]。因此规程要求,当末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ时,可通过测量末屏介质损耗因数tanδ作进一步判断,测量电压为 2kV,通常要求小于0.015。2 三种试验接线方式测量电容式电流互感器末屏的tanδ和CX应采用反接线的方式进行,反接线的测量方式是末屏接高压线,加压2kV,互感器二次绕组短路接地,此时一次绕组的接线方式对试验结果有一定的影响。(1)一次绕组短接接地tanδ测=( C末tanδ末+C1tanδ1) /(C末+C1)(3)一次绕组短接接屏蔽C测=C末tanδ测=tanδ末由上述三种接线方式的等值电路图分析可知,一次绕组短接接屏蔽的接线方式屏蔽了主屏电容及杂散电容,测量的仅是末屏对地的部分,其值最为准确[2]。3 试验分析为验证上述理论分析,选取江苏ABB精科互感器厂LB7-220W3型互感器进行一次绕组不同接线方式下tanδ和CX测试。一次绕组接线方式tanδ(%)CX(pF)短接接地0.5232098悬空0.6391204短接接屏蔽0.6681176C测=C末+C主tanδ测=( C末tanδ末+C主tanδ主) /(C末+C主) (2)一次绕组悬空由于两并联支路的总电容量为各支路电容量的总和,所以一次绕组短接接屏蔽的接线方式测得的电容量CX最小;由于总体tanδ值是介于各并联支路最大tanδ值与最小tanδ值之间,而一次对末屏及对周围接地部分电容的tanδ值很小,所以未接屏蔽时所测得的tanδ较接屏蔽时偏小。试验数据与理论分析一致。4 结束语在现场测量时,应将一次绕组接屏蔽线的测量结果作为分析、判断设备绝缘状况的主要依据。参考文献[1] 陈化钢.电力设备预防性试验方法及诊断技术[M].北京:中国水利水电出版社,2009:67.[2] 陈天翔,王寅仲,海世杰.电气试验[M].北京:中国电力出版社, 2008:166.C1=C主×C杂/( C主+C杂)tanδ1=( C主tanδ杂+C杂tanδ主) /(C主+C杂)C测=C末+C1科学与信息化2020年11月下 87